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輕便型β測(cè)厚儀項(xiàng)目簡(jiǎn)介
2014-8-27 來源：正航儀器 作者：正航網(wǎng)絡(luò) 閱讀：次
輕便型β厚儀根據(jù)氪射線穿過薄膜材料時(shí)的減弱規(guī)律，利用數(shù)字和模擬電路進(jìn)行運(yùn)算，顯示薄膜厚度。這種測(cè)厚儀可廣泛應(yīng)用于薄膜、紙張、橡膠、織物等材料的厚度測(cè)量，是非接觸式測(cè)量?jī)x表。與光電、電容、經(jīng)外等測(cè)厚儀相比，有許多優(yōu)點(diǎn)：體積小，耗電省，可交直流供電，便于攜帶使用，而且適于在各種不良環(huán)境下工作，對(duì)各種色彩、花紋及復(fù)合材料均可有效使用。
該儀器備有臺(tái)式、叉式和反射式三種探頭供用戶選用，既可用于質(zhì)管部門實(shí)驗(yàn)室測(cè)試，又可用于各種生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)在線連續(xù)監(jiān)測(cè)。主要技術(shù)指標(biāo)：
測(cè)厚范圍：
量程一：5 g/m2-200g/m2（密度為1g/m3的薄膜相當(dāng)于5μm-200μm）；
量程二：30 g/m2-1000g/m2（密度為1g/m3的薄膜相當(dāng)于30μm-1mm）；
測(cè)厚精度：厚度≤20 g/m2時(shí)為±1g/m2 ，厚度＞20 g/m2時(shí)為±5％。http://m.51reagent.cn
