恒溫恒濕試驗箱投光燈的結(jié)構(gòu)與性能研究：
恒溫恒濕試驗箱投光燈的結(jié)構(gòu)與性能研究大功率恒溫恒濕試驗箱恒溫恒濕試驗箱主要由以下幾個部分組成:半導(dǎo)體光源器件、封裝基板、驅(qū)動電源和恒溫恒濕試驗箱散熱結(jié)構(gòu)。
光源器件分析：
兩種恒溫恒濕試驗箱恒溫恒濕試驗箱芯片采用美國某公司生產(chǎn)的大功率發(fā)光二極管做光源，根據(jù)在環(huán)境溫度100 e下、工作1 000 h進(jìn)行加速壽命試驗的結(jié)果，1W恒溫恒濕試驗箱加速壽命試驗500 h光衰減為9%。
封裝基板分析：
功率型恒溫恒濕試驗箱封裝基板作為熱與空氣對流的載體，其熱導(dǎo)率對恒溫恒濕試驗箱的散熱起著決定性作用。選擇合適的基板，對恒溫恒濕試驗箱的散熱性和可靠性具有重要影響。功率型恒溫恒濕試驗箱封裝基板材料要求具有高電絕緣性、高穩(wěn)定性、高導(dǎo)熱性及與芯片匹配的熱膨脹系數(shù)、平整性和較高的強度。
驅(qū)動電源分析：
驅(qū)動電源的設(shè)計必須要綜合考慮各種因數(shù)，如效率轉(zhuǎn)換、有效功率、恒流精度、電源壽命、電磁兼容等。是特性敏感的半導(dǎo)體器件，又具有負(fù)溫度特性，因而在應(yīng)用過程中需要對其進(jìn)行穩(wěn)定工作狀態(tài)和保護(hù)。
散熱系統(tǒng)分析：
的光源特性決定了其對溫度的特殊要求，散熱能力是一個相當(dāng)重要的考核指標(biāo)，通常通過散熱的結(jié)構(gòu)封裝技術(shù)及散熱裝置設(shè)計來保障最佳的光亮度及延長其無故障工作時間。恒溫恒濕試驗箱投光燈高溫老化光電性能測試過程：
隨著發(fā)光二極管(恒溫恒濕試驗箱)應(yīng)用范圍的擴(kuò)大，對大功率恒溫恒濕試驗箱恒溫恒濕試驗箱的性能有了更高的要求，對恒溫恒濕試驗箱光、色、電參數(shù)的測量也提出了更高的要求，如:亮度高低、波長的一致性、抗靜電能力強弱、漏電電流的大小等。
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