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HAST壽命試驗(yàn)箱,HAST測(cè)試儀試驗(yàn)時(shí)應(yīng)明確的事項(xiàng)
2013-11-5 來(lái)源：正航儀器 作者：佚名 閱讀：次
HAST壽命試驗(yàn)箱使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，測(cè)試其制品的耐厭性、氣密性。適用于國(guó)防、航天、汽車(chē)部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥線(xiàn)路板，多層線(xiàn)路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè)，相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗(yàn)。
HAST壽命試驗(yàn)箱試驗(yàn)時(shí)應(yīng)明確的事項(xiàng)：
a、明確試驗(yàn)?zāi)康募耙螅?/SPAN>
b. 明確試驗(yàn)對(duì)象和規(guī)定試驗(yàn)樣品；
c. 明確試驗(yàn)地點(diǎn)與條件；
d. 明確制定試驗(yàn)方案；
e. 明確試驗(yàn)參加人員；
f. 制定試驗(yàn)記錄表格及統(tǒng)計(jì)方法．
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